顆粒粒徑分析儀用于檢測液體中固體顆粒的大小和數(shù)量,可廣泛應(yīng)用于航空航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造等領(lǐng)域，對液壓油、潤滑油、變壓器油（絕緣油）、汽輪機(jī)油（透平油）、齒輪油、發(fā)動(dòng)機(jī)油、航空煤油、水基液壓油等油液進(jìn)行固體顆粒污染度檢測，及對有機(jī)液體、聚合物溶液進(jìn)行不溶性微粒的檢測。

 

　　工作原理：

　　動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)，有時(shí)稱為準(zhǔn)彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術(shù)，可測量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術(shù)，粒度可小于1nm。動(dòng)態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)，造成散射光光強(qiáng)的波動(dòng)。分析光強(qiáng)的波動(dòng)得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

 

　　測量范圍：

　　測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

　　顆粒粒徑分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：

　　1、半導(dǎo)體：CMPSlurry，芯片，晶圓加工等；

　　2、特殊化工品：墨水&噴墨，納米材料，化工染料，潤滑劑，清洗劑等；

　　3、醫(yī)藥領(lǐng)域：乳劑，注射劑，脂質(zhì)體，膠體，混懸劑，滴眼液，高分子，病毒，疫苗等；

　　4、其他：過濾產(chǎn)品，清潔度方面，食品飲料，化妝品等。