納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）

 

　　顆粒粒徑分析儀所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

 

　　顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術(shù)相比，不僅能夠測定顆粒的大小和數(shù)量，還能測量粒子的形狀、形態(tài)，對于顆粒組成、結(jié)構(gòu)、來源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應(yīng)顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數(shù)，并且可以給出其他分析方法的對應(yīng)報告結(jié)果（沉降法、電阻法、激光法）達到一機多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產(chǎn)加工企業(yè)提供良好的產(chǎn)品質(zhì)量信息和生產(chǎn)工藝的。

 

　　顆粒分析儀型號量程及性能特點：

 

　　1、全自動激光粒度儀操作簡便，測試全程自動化，從分散介質(zhì)的加入、超聲、攪拌、到數(shù)據(jù)采集、測試輸出、清洗等過程均可自動完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時間可自由設(shè)定。

 

　　3、粒度儀測試軟件設(shè)計人性化，界面友好，測試操作即學(xué)即會。

 

　　4、粒度儀應(yīng)用全程米氏散射理論，使測試結(jié)果更加真實可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統(tǒng)，有效的降低了人為誤差對測試結(jié)果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設(shè)計的40路光電探測器，使測試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統(tǒng)計結(jié)果。

 

　　8、便攜式設(shè)計，體積更小、重量更輕。

 

　　1)篩分法：篩分法是一種zui傳統(tǒng)的粒度測試方法，也是過去zui常用的方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，可以用單個篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率，也可以用多個篩子疊加起來同時測量多個粒徑顆粒的通過率，并計算出百分數(shù)。篩分法有手工篩、振動篩、負壓篩、全自動篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與顆粒的取向和篩分時間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分方法標準。

 

　　(2)顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測量與實際顆粒投進面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機)、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接嬎銠C中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統(tǒng)計出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。

 

　　由于這種方法單次所測到的顆粒個數(shù)較少，對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結(jié)果的真實性。除了進行粒度測試之外，它還常用來觀察和測試顆粒的形貌

 

　　(3)刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評價樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。

 

　　(3)沉降法：依據(jù)顆粒的沉降速度作等效對比，所測的粒徑為等效沉速徑，即用與被測顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來代表實際顆粒的大小。有簡單的沉降瓶法和按此原理設(shè)計的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進行顆粒粒度的測量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測頭被檢測并拾取。因為大小不同的顆粒到達檢測頭的時間不同，因此通過記錄顆粒到達檢測頭的時間，就可以知道顆粒的大小，

 

　　(4)電阻法：電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了。

 

　　(5)激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，所測出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實際被測顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的大小。當(dāng)被測顆粒為球形時，其等效粒徑就是它的實際直徑。一般認為激光法所測的直徑為等效體積徑。該方法測定速度快，不過從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

 

　　(6)透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個金屬管里并壓實，將這個金屬管安裝到一個氣路里形成一個閉環(huán)氣路。顆粒粒徑分析儀當(dāng)氣路中的氣體流動時，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就小；樣品較細，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動所受的阻礙就大。透氣法就是根據(jù)這樣一個原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個平均粒度值，不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

 

　　(7)超聲波法：通過不同粒徑顆粒對超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達到70%的高濃度漿料。

 

　　(8)相關(guān)法：用光子相關(guān)原理測量粒度的一種方法，主要用來測量納米材料的粒度分布。